Une équipe de physiciennes et physiciens a réalisé la prouesse de mettre en évidence dans le cristal de silicium le déplacement d’un atome unique susceptible de sauter, sous excitation laser, entre plusieurs positions dans un défaut fluorescent.
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Ce qu'il faut retenir :
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Les défauts cristallins fluorescents dans les matériaux semiconducteurs sont des systèmes quantiques fascinants car ils se comportent comme des atomes artificiels piégés dans le cristal. Parmi les nombreux défauts possibles du cristal de silicium, ce matériau phare des microprocesseurs, existe un défaut particulièrement intéressant, bien connu depuis les années 1970 et appelé le centre G. L’étude de ce dernier a connu un regain d'activité ces dernières années en raison de ses propriétés de spin combinées à une émission de photons uniques aux longueurs d'onde télécom. Habituellement, les défauts ont une structure microscopique statique où les atomes ne sont autorisés à vibrer qu'autour de positions d'équilibre bien définies, sans pouvoir faire des excursions de plus grande ampleur. Étonnamment, ce n'est pas le cas pour le centre G, qui est constitué de 2 impuretés de carbone, reliées par un atome de silicium interstitiel qui peut bouger entre 6 sites cristallins (voir figure).
Cet effet n'avait jamais été observé à l'échelle du défaut individuel, une prouesse qui a été réalisée récemment par une collaboration internationale (voir ci-dessous). En isolant un seul défaut G par des techniques de microscopie avancées à basse température, les scientifiques ont en effet détecté une structure fine dans ses raies d'émission qui est la signature du mouvement d'un seul atome de silicium à l'intérieur du cristal massif contenant des milliards de milliards d'atomes de silicium.
En analysant les propriétés d'émission des centres G individuels, les scientifiques ont de plus montré que leur dynamique est très sensible aux perturbations de l'environnement cristallin. En particulier, les échantillons couramment utilisés en microélectronique et en nanophotonique, constitués d'une couche de silicium sur une couche de silice SiO2, présentent une contrainte qui déforme la structure géométrique des défauts. En conséquence, l'atome mobile des centres G, qui est parfaitement délocalisé entre les 6 sites dans le cas non perturbé, se retrouve piégé dans un site donné. L'excitation laser le fait alors sauter aléatoirement entre les différentes positions, comme une bille dans une roulette de casino à 6 cases.
Les sources de photons uniques et les interfaces spin-photon exploitant les propriétés de centres G individuels sont intéressantes dans le contexte du développement florissant de la photonique quantique intégrée sur des puces en silicium. Ainsi, le prochain défi pour les chercheurs et chercheuses consistera à contrôler la dynamique de reconfiguration des centres G individuels. Les pistes d'exploration future comprennent l'ingénierie de la déformation du cristal de silicium et le développement de protocoles d'excitation laser résonante pour forcer l'atome mobile à rester dans un site cristallin donné. Ces travaux sont publiés dans la revue Physical Review X.
Références :
A. Durand et al., Hopping of the Center-of-Mass of Single G Centers in Silicon-on-Insulator, Physical Review X 14, 041071 (2024) – Publié le 27 décembre 2024
Article initialement publié sur le site du CNRS le lundi 26 mai 2025.
Crédit de la figure : Félix Cache, L2C, CNRS et Université de Montpellier.